標本データを読み込みます。
このシミュレーションされたデータは、世界中で 50 の工場を操業している製造企業から取得しており、各工場が完成品の生産のためにバッチ処理を実行しています。同社は各バッチの欠陥数を減少させるために新たな製造プロセスを開発しました。新しいプロセスの効果をテストするため、同社は実験に参加させる 20 工場を無作為に選びました。10 工場では新プロセスを実施しますが、残りの 10 工場では旧プロセスの実行を続けます。各 20 工場で、同社は 5 つのバッチ (合計 100 バッチ) を実行し以下のデータを記録しました。
またデータに含まれる time_dev
と temp_dev
は、摂氏 20 度で 3 時間の標準プロセスから得られる時間と温度の絶対偏差をそれぞれ表します。
固定効果予測子として newprocess
、time_dev
、temp_dev
および supplier
を使用して一般化線形混合効果モデルを当てはめます。工場特有の変動に起因して品質に差がある可能性を考慮するために、factory
別にグループ化された切片の変量効果項を含めます。応答変数 defects
はポアソン分布であり、このモデルの適切なリンク関数は対数です。係数の予測にラプラス近似メソッドを使用します。ダミー変数エンコードを 'effects'
として指定すると、ダミー変数の係数の合計が 0 になります。
欠陥数はポアソン分布を使用してモデル化できます。
これは一般化線形混合効果モデルに対応します
ここで
は、バッチ 処理中の工場 で実行されたバッチで観測された欠陥数です。
は、バッチ () 処理中の工場 () に対応する欠陥の平均数です。
、 および は、バッチ 処理中の工場 に対応する各変数の測定値です。たとえば は、工場 で実行されたバッチ 処理中に新プロセスが使用されたかどうかを示します。
および はエフェクト (ゼロサム) コーディングを使用するダミー変数であり、バッチ 処理中に工場 で実行されたバッチに対して、それぞれ会社 C
または B
が加工化学薬品を供給したかどうかを示します。
は、工場特有の品質変動に相当する、各工場 の変量効果の切片です。
ピアソン残差を使用して診断プロットを作成し、モデルの仮定を検定します。
ピアソン残差の平均が 0 に等しいことを視覚的に確認するため、ヒストグラムをプロットします。モデルが正しい場合、ピアソン残差の中心は 0 になっているはずです。
ヒストグラムは、ピアソン残差が 0 を中心にしていることを示します。
ピアソン残差と当てはめた値をプロットして残差間の非定数分散の兆候 (不均一分散) を確認します。条件付きピアソン残差には、一定の分散があると予測されます。したがって、条件付きピアソン残差と条件付きの当てはめた値のプロットは、条件付き近似値において体系的な依存性を示さないはずです。
このプロットは当てはめた値において体系的な依存性を示さず、残差間でも非定数分散の兆候がありません。
ピアソン残差とラグ付き残差をプロットして、残差間の相関を確認します。GLME の条件付き独立仮定は、条件付きピアソン残差がほぼ無相関であることを示します。
プロットにパターンはありません。そのため、残差間で相関の兆候はありません。