拡張 MCDC を使用した back-to-back テストの作成
back-to-back テスト、つまり等価性テストは、ノーマル シミュレーションの結果を、ソフトウェアインザループ (SIL)、プロセッサインザループ (PIL)、またはハードウェアインザループ (HIL) のシミュレーションから生成されたコードの結果と比較します。back-to-back テストは、拡張 MCDC を使用する Simulink® Test™ で生成できます。
テスト入力と検証手法の設定
Simulink Test でテスト対象のコンポーネントまたはサブシステムをテストする場合は、Simulink Test のテスト マネージャーで、[新規] 、 [モデル コンポーネントのテストの作成] を選択することにより、[モデル コンポーネントのテストの作成] ウィザードで [Design Verifier を使用してテスト入力シナリオを生成する] を使用できます。詳細については、Generate Tests and Test Harnesses for a Model or Components (Simulink Test)を参照してください。
2 つの異なるシミュレーション モードでコンポーネントを実行した結果を比較するには、ウィザードの [検証手法] タブで [back-to-back テストを実行する] を選択します。Atomic サブシステムまたは再利用可能なライブラリ サブシステムに対し SIL テストを行う場合は、サブシステムまたはサブシステムを含むライブラリに、生成されたコードが既に含まれていなければなりません。詳細については、Simulink Design Verifier の拡張 MCDC カバレッジを参照してください。
[back-to-back テストを実行する] で、[シミュレーション 2] として Software-in-the-Loop
または Processor-in-the-Loop
を選択すると、[モデル カバレッジ オブジェクティブを拡張 MCDC として設定] オプションが表示されます。拡張 MCDC は、下流ブロックからのマスキング効果を回避するテスト ケースを生成することにより、判定カバレッジを拡張します。